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学术报告 《基于金刚石NV色心的实用化电磁场量子精密测量》

2019-02-25(点击:)

“数理时空”学术论坛第十二讲

讲座题目:《基于金刚石NV色心的实用化电磁场量子精密测量》

讲座时间:2019年2月27日(周三)14:30

讲座地点:西校区理学楼404

主讲人:杜关祥

主讲人简介:

杜关祥,男,博士,南京邮电大学通信与信息工程学院教授。于2008年7月在中科院物理所获博士学位,日本学术振兴会特别研究员奖学金获得者,先后在日本东北大学、瑞士巴塞尔大学和德国马普生物物理化学研究所从事科研工作。

杜关祥博士多次获得国际会议奖项,包括:2010 MMM最佳海报、2011日本磁学会年度论文奖、2014年EFTF最佳海报奖。他是2013年北京市科技奖一等奖获得者,2015年获得江苏省特聘教授称号,2016年南京邮电大学“鼎山学者”和江苏省第十三批“六大人才高峰”高层次人才,目前担任江苏省PeterGrünberg研究中心副主任。

杜关祥博士长期从事精密测量方法和测试系统的开发,围绕物质的自旋属性和自旋的光学电子学操控相关中的关键测量问题开展实验物理研究。在自旋电子谱学,磁光学和原子量子光学等学科都做出了独特的工作,涉及物理学的多个分支学科,积累了丰富的仪器仪表开发经验。主要在以下研究方向开展研究工作:(1)高频电磁波精密测量;(2)极微弱磁场精密测量;(3)生物体系核磁共振技术。

报告摘要:

第五代移动通信和万物互联技术对微波毫米波集成电路的需求提出了全新的要求。自充电、低功耗、多功能集成微波电路成为产业趋势,复杂度和集成度空前提高,特征线宽在不断减小,发展全新的非破坏高分辨微波场近场成像技术对芯片的功能和失效分析至关重要,目前尚没有成熟的技术路线。采用量子体系作为传感单元,通过分析量子态在电磁场中的演化规律,采用全光学的方法,获得电磁场分布的一种精密测量方法。全光学方法的优势在于可以通过搭建光学成像系统进行一次成像来获得目标空间中的电磁场分布,具有高效、干扰小等优点。这一技术的高分辨率将产生一批新的应用:使得芯片电磁兼容测试、微波芯片失效分析和天线近场分布成像成为可能。本报告探索一种基于金刚石NV色心的实用化电磁场精密测量技术,汇报课题组在微波芯片、芯片滤波器和天线测试表征上的一些工作。

理学院

2019年2月25日

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